hrvatski

Karakterizacija na nanoljestvici - izazov nanometrologije

Nanotehnologija uključuje manipulaciju materije na nanometarskoj ljestvici duljine s ciljem stvaranja nanostruktura s jedinstvenim svojstvima. Napredak u temeljnim nanoznanostima, dizajnu novih nanomaterijala i u konačnosti izradi proizvoda utemeljenih na novim nanotehnologijama u znatnoj mjeri ovise o mogućnosti da se točno i reproducibilno mjere svojstva i značajke performansi na nanoljestvici. Metrologija sukladna sa sustavima na nanoljestvici je kritičan preduvjet za razvoj nanotehnologije, kako na razini temeljnog znanstvenog razumijevanja tih sustava , tako i na razini komercijalnih aktivnosti. U tom kontekstu može se identificirati pet kritičnih područja nanometrologije: nanokarakterizacija, nanomehanika, nanoelektromegnetika i fotonika te nanoizrada i proizvodnja. U ovom predavanju dan je kratki pregled aktualnog stanja kao i ciljeva, zapreka i mogućih riješenja u području nanokarakterizacije.

metrologija; nanometrologija; nanokarakterizacija

nije evidentirano