hrvatski

Tragovi brzih teških iona u materijalima

Proizvodnja i karakterizacija ionskih tragova brzim teškim ionima područje je primjenjene fizike koje je u intenzivnom razvoju. Osim mnogobrojnih primjena jetkanih ionskih tragova, u posljednje vrijeme sve više pažnje privlače latentni ionski tragovi, kako zbog mogućih primjena tako i zbog odgovora koje daju na pitanja vezana uz fundamentalne procese prilikom interakcije brzih teških iona s materijom. Tipične dužine latentnih ionskih tragova su desetak mikrometara, ali im se promjer mjeri u nanometrima, što je oduvijek predstavljalo značajnu poteškoću u njihovoj karakterizaciji. Promjer jetkanih tragova ovisi o vremenu jetkanja, a komercijalno dostupne membrane imaju dimenzije pora izmedu 0.1 i 10 mikrometara. Karakterizacija submikronskih pora često predstavlja problem zbog ograničenja optičkog mikroskopa, koji je još više naglašen pomicanjem granica dimenzija jetkanih tragova u područje ispod 100 nm. Postojeći 6 MV tandem van de Graaff akcelerator u Laboratoriju za interakciju ionskih snopova u kombinaciji s ionskom mikroprobom predstavlja suvremenu platformu za modifikaciju materijala snopovima brzih, teških iona. U ovom radu bit će prikazan status tri projekta: konstrukcija novog sustava za detekciju pojedinačnih iona, karakterizacija komercijalnih polimernih "track etched" membrana pomoću STIM (Scanning Transmission Ion Microscopy) metode, te proizvodnja i karakterizacija ionskih tragova na površini SrTiO3 pomoću AFM-a.

latentni ionski tragovi; teški ioni; STIM

nije evidentirano