Nalazite se na CroRIS probnoj okolini. Ovdje evidentirani podaci neće biti pohranjeni u Informacijskom sustavu znanosti RH. Ako je ovo greška, CroRIS produkcijskoj okolini moguće je pristupi putem poveznice www.croris.hr
izvor podataka: crosbi !

Application of the nitride semiconductors and new methods for optical characterisation (CROSBI ID 564425)

Prilog sa skupa u zborniku | sažetak izlaganja sa skupa

Šantić, Branko Application of the nitride semiconductors and new methods for optical characterisation // 2. radionica Sekcije za primijenjenu i industrijsku fiziku Hrvatskog fizikalnog društva - Knjiga sažetaka / Gracin, Davor ; Juraić, Krunoslav (ur.). - Zagreb : Hrvatsko fizikalno društvo , 2010. 13-13 (ISBN: 978-953-7178-14-7).. 2010

Podaci o odgovornosti

Šantić, Branko

engleski

Application of the nitride semiconductors and new methods for optical characterisation

U prvom dijelu će biti opisana osnovna svojstva tzv. nitridnih poluvodiča (AlN, GaN, InN). Ti materijali nalaze ogromnu primjenu u elektroničkim i optoelektroničkim komponentama, a naročito dominiraju u generiranju fotona u vidljivom području. Npr, svaki mobilni telefon sadrži niz nitridnih svjetlećih dioda (LED). U drugom dijelu, biti će skicirane nove optičke metode, a koje su razvijene tokom istraživanja tih poluvodiča. Te metode služe za jednostavno i pouzdano određivanje osnovnih optičkih parametara: indeksa loma i debljine filma. Metode su neosjetljive na raznolike nesavršenosti uzoraka, kao i na nepoznate parametre. Nadalje, moguće je karakterizirati i tekućine. Metode su primjenjive za karakterizaciju najrazličitijih transparentnih materijala.

semiconductors; optical methods

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

nije evidentirano

Podaci o prilogu

2010.

objavljeno

Podaci o matičnoj publikaciji

Podaci o skupu

2. radionica Sekcije za primijenjenu i industrijsku fiziku Hrvatskog fizikalnog društva

predavanje

01.01.2010-01.01.2010

Zagreb, Hrvatska

Povezanost rada

Fizika