hrvatski

Karakterizacija površinskih struktura ofsetnih tiskovnih formi

Karakterizacija površinskih struktura tiskovnih formi provedena je metodama koje su omogućile detaljnu analizu topografskih, fizikalno-kemijskih i elektrokemijskih svojstava tiskovnih formi. Mjerenja su provedena na tiskovnim formama dobivenim analognim (Computer to Film to Plate)i digitalnim (Computer to Plate) postupkom, a uzorci tiskovnih formi su pripremljeni u zavisnosti o različitim uvjetima njihovog kemijskog razvijanja. Obzirom da su dosadašnja istraživanja i razvijene testne forme usmjerene većinom na praćenje i kontrolu razine kvalitete tiskovnih površina (fotoaktivnog sloja), ova istraživanja su usmjerena isključivo na analizu slobodnih površina (aluminijev oksid) koje u jednakoj mjeri utječu na funkcionalna svojstva tiskovnih formi. Detaljan prikaz površinskih struktura aluminijevog oksida na tiskovnim formama dobiven je pretražnom elektronskom mikroskopijom (SEM). Provedena je fraktalna analiza SEM snimaka u sivoj skali i definirana je fraktalna dimenzija na medijan filtriranim slikama. Mjerenje topografije i promjena kojes e događaju na slobodnim površinama tiskovnih formi provedeno je kontaktnim (mehaničkim) i nekontaktnim (laserski) metodama mjerenja. Određeni su i spektri impedancije površinskih struktura na uzorcima da bi se ustanovila dielektrična svojstva aluminijevog oksidnog sloja na pšovršini tiskovnih formi. Kontrolna mjerenja su provedena određivanjem slobodne površinske energije i kontaktnog kuta aplikacijom otopine za vlaženje na površinu tiskovnih formi. Provedenim istraživanjima i analizom rezultata mjerenja dokazano je da proces kemijskog razvijanja tiskovnih formi, unatoč optimalnoj razini kvalitete tiskovnih formi, utječe na promjene u površinskoj strukturi aluminijevog oksida. Dobiveni istraživanja dali su novi uvid u strukturu slobodnih površina na CtFtP i CtP tiskovnim formama, što je naročito zanimljivo zato što kontrola tih površina danas još uvijek nije standardizirana, te se provodi isključivo vizualnim metodama. Utvrđeno je da su površinske strukture poroznih slojeva razkičite, neovisno o vrsti i tipu tiskovnih formi, te otopine za vlaženje i površine tiskovnih formi u reprodukcijskom procesu. Analizom rezultata istraživanja utvrđeno je da vrijednosti fraktalne analize mogu biti značajan faktor promjena u hrapavosti površinskih struktura tiskovnih formi. Utvrđeno je da različite profilometrijske metode mjerenja topografije površinskih struktura daju različite rezultate mjerenja, što je sukladno s ranije objavljenim rezultatima. Rezultatima se pokazalo da neovisno o metodi mjerenja, hibridni parametri hrapavosti (Rpk, Rk, Rvk, Mr i Mr2) i njihovo definiranje na krivulji relativne nosive duljine profila (Abbott-Firestone krivulja) daju najbolju informaciju o površinskoj hrapavosti i promjenama u površinskoj strukturi tiskovnih formi. Impedancijska spektroskopija pokazala se kao relevantna metoda u otkrivanju i karakterizaciji dielektričnih svojstava i promjena u površinskoj strukturi oksidnih prevlaka.

aluminijev oksid; karakterizacija površinskih struktura; ofsetne tiskovne forme

nije evidentirano